유전율

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제조사별 산업별 측정항목별
유전율

유전율 측정기 (유전체 공진기) 요약정보 및 구매

본 장비는 주로 세라믹처럼 높은 유전율에서 손실인 유전체에 대해서 고정 밀도에 전율 측정하며 대표적인 측정 방법으로 JIS R 1627, 국제 규격 IEC 61338-1-3에 제정되고 있습니다. 원주상의 유전 체내에 갇힌 공진 모드 TE011을 루프 안테나에 의해서 결합하고 공진 주파수 및 Q값을 측정합니다. 2종류의 참고 재료로 반도체판의 도전율(반도체판의 손실치)을 측정하고 교정합니다.

제조사 AET
원산지 JAPAN
모델명 유전체 공진기
판매가격 전화문의

제품설명

특징


고유전율/저손실 유전체에 고정밀 측정이 가능합니다(JIS R1627규격 준수, 국제 규격 IEC 61338-1-3에 준거).

 

■ 2장의 반도체 평판 상하에서 유전체 원기둥 시료를 두고 유전체 공진기를 구성합니다.

    두 종류의 참고 재료로 반도체판의 도전율(반도체판이 가진 손실치)을 측정하고 교정을 실시합니다.


소프트웨어로 반도체판의 도전율, 시료의 유전율, 유전 손실을 계산.


공진 피크를 쉽게 찾기 위한 보조 기능으로서 공진 주파수 추정 기능 탑재.


설정 온도에서 시료의 유전율과 유전 손실이 계산합니다.또 공진 주파수에서의 온도 계수에 의한 유전율과 유전 손실도 계산합니다.


제품사양

사양

 

측정 주파

20GHz이하

측정 범위

유전율:5~200 tanδ:0.00001~0.001

측정 정밀도

유전율:±1%, tanδ:±5%

샘플 형식

원주

조건

네트워크 어날라이저가 필요
유전 손실이 무려 0.001이하의 손실인 재료

 

옵션정보

옵션


1. 장치는 어떤 네트워크 어날라이저에도 대응하고 있습니까?

  - 키사이트의 PNA시리즈, ENA시리즈, 872x시리즈 / 안리츠 37000시리즈 / 로데슈바르츠 사의 네트워크 애널라이저를 사용할 수 있습니다. 그 이외의 네트워크 애널라이저를 가진 경우    에는 문의바랍니다 

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